系统采用B/S架构，学生机无需安装任何插件即可使用，客户端数量不受限制。学员可通过调节kV、mA、ms等不同曝光参数，直观理解参数变化与X射线能谱关系（边界吸收限）之间的联系；系统支持测量不同曝光参数下的比释动能（照射剂量）、照射量、平均能量、平均波长等数据，并可导出为Excel表格保存；同时能够测量水、铝片、铜片、铅片四种材料在不同厚度下的比释动能、照射量及对应半价层，数据同样支持导出。此外还设有空间分辨率实验模块，模拟不同曝光参数、不同SID（源像距）、不同SOD（源物距）条件下图像分辨率的变化规律。
| 适用对象 | 医学影像技术、放射物理相关专业 |
| 参数实验 | kV/mA/ms曝光参数与能谱关系(边界吸收限) |
| 剂量测量 | 比释动能、照射量、平均能量、平均波长，可导出Excel |
| 材料测试 | 水/铝/铜/铅四种材料不同厚度下的半价层测量 |
| 分辨率实验 | 模拟不同SID/SOD下空间分辨率变化 |
通过调节kV、mA、ms等曝光参数，帮助学生理解参数与X射线能谱关系（边界吸收限）之间的联系。
可测量不同曝光参数下的比释动能（照射剂量）、照射量、平均能量、平均波长，数据可导出为Excel表格保存分析。
可测量水、铝片、铜片、铅片四种材料在不同厚度下的比释动能、照射量及相应半价层，同样支持数据导出。
可模拟不同曝光参数、不同SID（源像距）、不同SOD（源物距）情况下分辨率的变化规律。
已服务全国100+所医学院校，包括青海大学、三军医大、贵州医科大学、石家庄医学高等专科学校等知名院校。